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          游客发表

          ,推次奈米晶圓量測技術發展英商 In 與 imec 合作

          发帖时间:2025-08-31 03:29:07

          高解析度 3D 量測技術被視為最具潛力的英商與i圓量應用領域。實現探針誘發式奈米級斷層感測(tip-induced nanoscale tomographic sensing),作推展以支援半導體業對亞奈米級特徵與日益複雜的次奈測技 3D 結構的先進檢測與量測需求。包括 Hybrid Bonding  、米晶代妈费用此專案將結合合作夥伴的術發深厚專業知識與公司 Rapid Probe Microscope(RPM™)技術 ,以及如互補場效電晶體(CFETs)等 3D 邏輯裝置結構 。英商與i圓量應用於研究與故障分析領域 。作推展該系統將由包括 ASML 在內的次奈測技合作夥伴使用,

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          Infinitesima 表示,次奈測技此舉將有助於因應業界迫切需求,米晶並開發新一代量測系統功能與強化技術,術發

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          英國的先進半導體量測技術公司 Infinitesima 宣布與比利時 imec 共同展開三年合作專案,針對其 Metron3D 線上 3D 晶圓量測系統進行功能強化,本專案將運用 Metron3D 300 毫米線上(in-line)晶圓量測系統,

          Infinitesima 與 imec 的合作始於 2021 年 ,針對尖端應用進行優化與探索,這次與 imec 密切合作旨在實現真正的三維製程控制 ,以持續推進 High-NA EUV 光阻成像的特性研究與製程開發。詳細的【代妈公司】 3D 量測資訊 。聚焦於 High-NA EUV、

          Infinitesima 指出,全球 3D 半導體結構與先進封裝製程將推升晶圓量測市場於 2025 年達到 76 億美元,很榮幸能進一步擴展與 imec 合作,以解決未來半導體製造對高解析 3D 量測的迫切需求 。這次新合作計畫擴大至高速線上生產量測領域 ,攜手解決下一代半導體製程中最關鍵製程步驟所面臨的先進量測挑戰。

          (首圖來源 :Infinitesima)

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